瀝青高速抽提儀TC-HCT-2

瀝青高速抽提儀用于瀝青混合料中瀝青含量實驗，是一種靠設(shè)備高速旋轉(zhuǎn)所產(chǎn)生的離心力把瀝青混合料中的瀝青分離出去的快速檢測設(shè)備，適合于道路工程，瀝青混合料生產(chǎn)廠家的現(xiàn)場快速檢測。

技術(shù)指標：

瀝青高速抽提儀TC-HCT-2

1. 料碗重量: 4.5kg
2. 功率: 0.55kW
3. 電源: 220V±10V 50Hz

4. 額定轉(zhuǎn)數(shù): 3000rpm
5. 外形尺寸: Ø360mm x 490mm（H）
6. 重量: 25kg

產(chǎn)品名稱：露點儀/ 便攜式露點儀 產(chǎn)品型號：TY-7060X

露點儀/ 便攜式露點儀型號：TY-7060X

  露點儀采用目前上的露點傳感器為敏感元件。具有良好的穩(wěn)定性、重復性、準確性。并已廣泛應用于石油、化工、空分、環(huán)保、冶煉、電子電力等行業(yè)。 
主要特點 
● 進口的露點傳感器 
● 響應速度快、靈敏度高，穩(wěn)定性好 
● 自我診斷、抗結(jié)露 
● 于大50bar的壓力環(huán)境 
 技術(shù)參數(shù) 
測量范圍：-100℃~+0℃  -80℃~+20℃  -60℃~+40℃ 
基本誤差：±2℃ 
傳感器原理：AL2O3 陶瓷電容 
測量方式：在線分析 
使用壽命：>2年 
響應時間：T90<20s 
環(huán)境溫度：0~50℃ 
環(huán)境濕度：<80%RH 
樣氣壓力：0.1±0.01MPa 
工作電源：內(nèi)部配備可充電電池組件及外接電源充電器  
氣體流量：2~5N/min 
報警輸出：上下限可隨意設(shè)定 
模擬輸出：4-20mA(選件) 
通訊：RS485/RS232 
尺   寸： 220mm(寬)X150mm（高）X300mm（深） 
 應用領(lǐng)域:石油化工、空分、冶煉、電子電力、環(huán)保等行業(yè) 
（注明：因為選配傳感器不同一些技術(shù)參數(shù)和使用條件有些不同，訂貨時可以提出。我公司竭誠為您選配適合的露點儀 ） 
 訂貨須知（用戶訂貨時請注明） 
● 測量范圍                                     ● 使用環(huán)境 
● 背景氣體的成分、雜質(zhì)等                       ● 被測氣體壓力 
TY-7060X儀器型號 
K開關(guān)量輸出 
A4-20MA輸出 
V0-5V電壓輸出 
W1網(wǎng)絡(luò)輸出（RS485） 
W2網(wǎng)絡(luò)輸出（RS232） 
F6于測SF6 

例如：訂帶開關(guān)量，4－20MA輸出，帶網(wǎng)絡(luò)輸出（RS485）的露點儀：TY－7060X-KAW1

產(chǎn)品名稱：雙電測數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2263

雙電測數(shù)字式四探針測試儀型號： ST2263 
概述  
     ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。   
      ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。      
      ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打?。?nbsp; 
     
     探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。  
     測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。      
          詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入  
      ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。  
     儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。  
三、基本技術(shù)參數(shù)      
3.1  測量范圍      
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)  
    直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    測量方位: 軸向、徑向均可  
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.4  數(shù)控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.5  四探針探頭（選配其一或加配全部）  
   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)  
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)  
3.6 電源      
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）